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新闻动态 NEWS
德国Raith电子束扫描/直写系统eLine PluseLine Plus
添加时间:2024-04-22
采用电子束直接曝光的方法,制作纳米图形结构(最小线宽为8 nm)。用于各种微纳器件与纳米人工结构的制作,是研究材料在低维度、小尺寸下量子行为的重要工具,也可用于直写高精度的光刻模板。如可用于制作下列器件与结构:微纳电子器件,光电子器件,生物传感器,微纳机电系统,超导电子学器件,磁电子学器件,低维材料输运性质测量的纳米电极,光子晶体与左手材料等。
技术指标
SEM分辨率:1.6 nm
最小线宽:12 nm
拼接精度:40 nm
套刻精度:40 nm
样品台:最大4英寸
沉积最小线宽:50nm
刻蚀最小线宽:100nm
最大高压:30KV
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